粒子束流沾污和射线

 

将K介子或反质子束流引入泡室可研究这些离子导致的反应，但这种粒子流中混杂有较轻的其他粒子如介子、子，它们对于K或束的“沾污”会导致研究结果的误差。束流一般都经过动量分析，即具有相同的动量，相同动量的粒子与泡室中物质的电子碰撞时，轻粒子产生的电子平均能量较高，利用这种性质可以估计轻粒子对重粒子束的沾污程度，从而对实验结果作适当修正。

设重粒子(K或)可产生的电子最大能量为，轻粒子(,)产生的能量高于的电子称为高能电子。引入下述记号：

——轻粒子产生一条高能射线的概率；

——轻粒子产生两条高能射线的概率；

——泡室中观测到的束流粒子径迹总数；

——观测到带一(二)条高能射线的束流粒子的径迹数；

——疏留中沾污的“轻”粒子径迹数(未知待求量)。

按照概率的定义，在很大的极限情形下，有：

两条高能射线是相互独立地产生的，据独立性原理，有：，因而得到

轻粒子对束流的沾污百分比为：